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物理特性標準物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度
更新時間：2025-11-08
產(chǎn)品型號：GBW13974
訪問次數(shù)：1546
產(chǎn)品簡介：GBW13974 物理特性標準物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度應(yīng)用領(lǐng)域物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性保存條件貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下使用注意事項運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔特征形態(tài)固態(tài)基體主要分析方法掠入射X射線反射測量和橢偏測量# 定值單位中國計量科學(xué)研究院#規(guī)格每盒1片
詳細資料：
| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | GBW13974 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | 每盒1片 | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
| 主要用途 | 物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性 |
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經(jīng)營范圍：國家標準物質(zhì)、國內(nèi)外標準品、藥典對照品，國內(nèi)外標準溶液，地質(zhì)礦產(chǎn)類標樣，冶金標樣，標準菌種、實驗室耗材、試劑盒，化學(xué)試劑等
GBW13974 物理特性標準物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度
應(yīng)用領(lǐng)域 物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性
保存條件 貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下
使用注意事項 運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔
特征形態(tài) 固態(tài)
基體
主要分析方法 掠入射X射線反射測量和橢偏測量#
定值單位 中國計量科學(xué)研究院#
規(guī)格 每盒1片
| 標準值 | 不確定度 | 單位 | CAS | 備注 |
|---|---|---|---|---|
| 二氧化硅納米薄膜厚度 | 119.1 | 1.6 | nm |
公司簡介：
武漢中昌國研標物科技有限公司—匯集各類標準物質(zhì)數(shù)十萬種，專業(yè)銷售各類國家標準物質(zhì)、標準樣品、標準溶液、標準品、對照品、化學(xué)試劑、進口試劑/標準品、標準氣體、混標定制、實驗室耗材等。 公司產(chǎn)品涉及到國內(nèi)質(zhì)檢、農(nóng)檢、計量、藥監(jiān)、水質(zhì)、生物、醫(yī)療、衛(wèi)生、環(huán)保等眾多領(lǐng)域。攜國內(nèi)各大標準物質(zhì)研究院、國外進口標準物質(zhì)研究機構(gòu)，代理品牌（如：Cato、阿拉丁、TCI、Acros、Sigma、麥克靈、默克等）提供一站式標準物質(zhì)采購服務(wù)。主要服務(wù)于高校實驗室、地質(zhì)研究院、水質(zhì)國家出入境檢疫檢驗系統(tǒng)、食藥監(jiān)督系統(tǒng)、各省市環(huán)境監(jiān)測站、第三方檢測機構(gòu)、以及科研院所等
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